免洗焊錫絲錫須現(xiàn)象
免洗焊錫絲出現(xiàn)錫須會導(dǎo)致電路短路，并導(dǎo)致電容器失效，這一問題引發(fā)人們對Sn晶須進行了長期深入而廣泛的研究。但是時至今日，Sn晶須現(xiàn)象還存在大量未解之謎。
晶須是指在金屬表面生長出的細絲狀單晶，通常生長在厚度較小的金屬沉積層表面，而以含錫鍍層表面生長的Sn晶須最典型。由于材料內(nèi)應(yīng)力梯度的存在，免洗焊錫絲錫須的生長是一個自發(fā)的過程，但是，其生長速度與外部環(huán)境條件密切相關(guān)。
免洗焊錫絲錫須導(dǎo)致的失效形式主要有4種
1、在低電壓下，由于電流比較小，錫須可以在領(lǐng)近不同電勢表面產(chǎn)生穩(wěn)定持久的短路；
2、在高電壓下，當電流足夠高而超過Sn晶須的熔斷電流時，可以熔斷晶須從而導(dǎo)致瞬時短路；
3、在航天器真空環(huán)境中，由錫須短路導(dǎo)致金屬蒸發(fā)放電，可形成一個穩(wěn)定的等離子電弧，并導(dǎo)致電子設(shè)備迅速毀壞；
4、在震動環(huán)境中，晶須脫落會引發(fā)電路短路，同時還可造成精密機械的故障或破壞。
因此，Sn晶須問題成為焊錫絲無鉛化進程的一個重要的可靠性問題，也是無鉛焊錫絲及所有無鉛焊錫產(chǎn)品進程的重要的可靠性問題。
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